超薄涂鍍層厚度儀廠家

超薄涂鍍層厚度儀廠家  測量微型物件及超薄涂鍍層的厚度：本儀器是一款非真空條件下，采用高精度、高分辨率的探測器，根據測試材料自動選擇濾光片，采用適合激發全元素的Mo靶材，搭載FlexFP無標樣定量計算方法，利用X射線熒光原理，測試樣品無損，快速檢測合金額材料中元素成分的光譜儀。

本儀器是一款非真空條件下，采用高精度、高分辨率的探測器，根據測試材料自動選擇濾光片，采用適合激發全元素的Mo靶材，搭載FlexFP無標樣定量計算方法，利用X射線熒光原理，測試樣品無損，快速檢測合金額材料中元素成分的光譜儀。

 Ux-210采用通用的一條工作曲線，就可以滿足測試常規金屬材料（鐵材、銅材、鋁合金、鋅合金）元素材料分析，判定材料性質特性，是質量部門和品質部材料檢驗的*。

產品應用特點：

1 X射線熒光原理，無損、快速、準確的檢測和鑒定材料成分；

1 銅材、鋼材、鋁合金等1個數據庫全部搞定；

1 FlexFP新技術的應用，無標樣既能分析未樣品；

1 高分辨率探測器，能夠檢測到幾十ppm的元素含量；

1 固體、粉末、液體等樣品可直接測試

1 幾十秒可得出穩定準確的測試數據；

1 測試過程簡單、輸出報告多種格式、查詢篩選統計功能齊全。

應用領域：

測試元素范圍：

測鐵粉里面的如下元素，鐵（40-70%），鋁（1-10%）硅（1-10%）；鋅鈦鈣鎂硫磷（都小于2%）

產品指標：

測試元素范圍：Na-U中的元素；

探測器類型：  SDD探測器

探測器分辨率：145eV

高壓范圍：5-50Kv ，50W

X光管參數：5-50Kv，50W，側窗類；

光管靶材：Mo靶；

濾光片：8種符合濾光片自動切換；

CCD拍照：130萬像素

微移動范圍：XY15mm

輸入電壓：AC220V，50/60Hz

開蓋方式：隨意自動停

測試樣品種類：液體、固體和粉末

測量范圍：1ppm—99.99%

測量用時：30-200秒

測試環境：非真空測試

數據通訊：USB2.0模式

準直器：?1,?2,?4mm

軟件方法：FlexFP

工作區：開放自定義

樣品腔：300×300×100mm

整機重量：45kg

超薄涂鍍層厚度儀廠家  測量微型物件及超薄涂鍍層的厚度：本儀器是一款非真空條件下，采用高精度、高分辨率的探測器，根據測試材料自動選擇濾光片，采用適合激發全元素的Mo靶材，搭載FlexFP無標樣定量計算方法，利用X射線熒光原理，測試樣品無損，快速檢測合金額材料中元素成分的光譜儀。